Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 1. Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 1. Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes

Auteur(s) Pierre Richard Dahoo (Auteur), Philippe Pougnet (Auteur), Abdelkhalak El Hami (Auteur)
Editeur(s) Iste éditions
Date de parution : 10/12/2021
Série(s) Applications et métrologie à l'échelle nanométrique

Disponible sous 5 à 8 jours
78,07 €
Tous les prix incluent la TVA
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Ean : 9781784057930
Rayon(s) mécanique
Format et Reliure : Livre
Pages : 214
Hauteur : 24.0 cm
Largeur : 16.0 cm
Epaisseur : cm