Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Auteur(s) Pierre Richard Dahoo (Auteur), Philippe Pougnet (Auteur), Abdelkhalak El Hami (Auteur)

Editeur(s) Iste éditions

Date de parution : 10/12/2021

Collection(s) Génie mécanique et mécanique des solides

Série(s) Applications et métrologie à l'échelle nanométrique

Disponible sous 5 à 8 jours

78,07 €

Tous les prix incluent la TVA

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Ean : 9781784057947

Rayon(s) mécanique

Format et Reliure : Livre

Pages : 232

Hauteur : 24.0 cm
Largeur : 16.0 cm
Epaisseur : cm